台式等离子清洗机Tabletop Plasma Cleaners

美国Tergeo系列台式等离子清洗机是电镜样品杆等离子清洗机。专为实验室，研发和 小规模生产部门提供性价比高的小型等离子清洗设备，等离子...

Nordson March AP600等离子清洗机Plasma Cleaning Machine

AP-600是特别设计的均匀清洗和处理的等离子设备，具有易操作性强、可靠性高、低成本的优点。AP-600是完全独立的系统，需要很小的空间。等离...

Nordson March AP1000 等离子清洗机Plasma Cleaning Machine

在微电子加工过程中，特别是在芯片贴装和丝线键合的过程中，需要对表面轻微有机污染或氧化物进行清洗，在这种场合下，需要用等离子清洗的方...

Nordson Mrach TRAK 系列自动等离子清洗机Plasma Cleaning Machine

Nordson MARCH TRAK系列气体等离子清洁设备提供了理想的处理均匀性和工艺一致性。 TRAK系列等离子系统在一个可以配置的平台上提供了优良...

Nordson March SPHERE晶圆系列等离子清洗机Plasma Cleaning Machine

系统设计用于晶圆处理。Nordson MARCH 的 SPHERE系列等离子系统是适用于晶圆级和3D封装应用的理想设备。等离子应用包括预处理、灰化/光刻胶...

ASM切筋及成型系统Trim & Form System

ASM MPhenix 系列 全自动切筋及成型系统在半导体封测领域主要用于SOP,QFP系列产品的切筋 折脚及从支架上分理出一颗颗的芯片

日立离子研磨仪Ion Milling System

复合研磨系统 双模式支持： 截面研磨（Cross-section） 平面研磨（Planar） 样品保护技术： 低温控制：液氮冷却（0~-100°C）...

Thermo Scientific 透射电镜Thermo Scientific S/TEM Specifications

蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电镜ZEISS GeminiSEM

日本电子透射电子显微镜 + TEM Transmission Electron Microscope

JEM-2100Plus 多功能透射电子显微镜 升级​：JEM-2100的迭代机型，集成TEMCenter智能操控平台

TESCAN 超高分辨场发射扫描电子显微镜 (FESEM)TESCAN Ultra-High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope

TESCAN MAGNA 超高分辨场发射扫描电子显微镜 (FESEM) (专为纳米材料表征设计) 核心镜筒： 采用独特的 TriLens 镜筒设计 (Triglav™ 超高...

TESCAN 超高分辨场发射扫描电子显微镜TESCAN Ultra-High Resolution Analytical FEG-SEM

TESCAN CLARA 分析型超高分辨场发射扫描电子显微镜 高效、准确和材料表征能力

TESCAN 高性能场发射扫描电镜（FE-SEM）High-Resolution Analytical FEG-SEM

TESCAN MIRA 是第四代高性能场发射扫描电镜（FE-SEM），通过 肖特基场发射电子枪（寿命≥2年）与 Essence™ 一体化操作软件的协同设计，实现...

TESCAN 无漏磁超高分辨 SEM 与高精度镓离子 FIBPerfect Integration of Stray-Field-Free UHR-SEM and High-Precision Ga-FIB

BrightBeam" 无漏磁超 低电压 镜筒内 显微分析 可变真空 Orage" TEM样品 FIB-SEM 电子镜筒 高分辨 分辨率 探测器 镓离子 制备 层析成像 S...

TESCAN 等离子体 FIB 与无漏磁超高分辨 SEMThe Perfect Fusion of Plasma FIB and Stray-Field-Free UHR-SEM

大尺度 截面剖析 FIB-SEM 双束系统 氙气等离 无漏磁超 镜筒内 减速模式 可变真空 分析 三维重构 (FIB-SEM) 子源FIB 高分辨 探测器 镜筒 S...

日立场式场发射扫描电镜Hitachi Field Emission SEM

操作高效便捷: 界面更加直观，仅需要“点击”即可得到图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。

透射SEM和扫描透射电子显微镜S/TEM Microscope

透射SEM和扫描透射电子显微镜TEMTalos™ L120C是一种具有全新设计和操作概念的新型 120kV透射和扫描透射电子显微镜（S/TEM）

赛默飞聚焦离子束FIBThermo Fisher Focused Ion Beam

Scios 2 DualBeam 系统可为各种样品提供业界*出色的样品制备、亚表层和三维表征性能。

日立扫描电子显微镜Hitachi scanning electron microscope

兼具台式电镜的简单快捷，图像分辨率高达4 nm。 同时具有高品质图像性能和更加完善的自动化功能， 可满足更广大用户的需求。

Park全自动晶圆检测原子力显微镜Park Automated AFM System