产品资料
赛默飞聚焦离子束FIBThermo Fisher Focused Ion Beam
产品型号：Scios 2 DualBeam
简介介绍：

Scios 2 DualBeam 系统可为各种样品提供业界*出色的样品制备、亚表层和三维表征性能。

详情介绍

Scios™ 2 DualBeam™ 双束电镜系统

1. 智能TEM样品制备

  • AutoTEM™ 4 AI驱动制样：
    ⚡️ 位置特异性薄片定位精度 <50 nm
    ⚡️ 全流程耗时 ≤45分钟（传统方法≥3小时）

  • Sidewinder™ HT FIB镜筒：

    • 低电压抛光（≤2 kV）：表面损伤 <5 nm

    • 高低压双模式：30 kV刻蚀 / 1 kV精修

2. 三维纳米级重构

  • Auto Slice & View™ 4 多模态采集：分辨率：1 nm层厚 / 4 nm体素

  • 全自动运行：支持 ≥1000层 连续采集

3. 超高分辨电子光学

镜筒技术 性能参数 工业价值
NICol™双物镜 60°大倾角样品台・极片防污染设计 复杂结构原位分析
肖特基电子枪 束流稳定性 ±0.2%/hr・寿命24个月 7×24连续运行
电子束减速 着陆能量20 eV・1 keV分辨率1.2 nm 敏感材料无损观测

Scios™ 2 DualBeam™ System

Core Innovations

1. AI-Powered TEM Prep

  • AutoTEM™ 4 Intelligence:
    ⚡️ Site-specific targeting <50 nm
    ⚡️ Full workflow ≤45 min (vs. 3+ hrs conventionally)

  • Sidewinder™ HT FIB Column:

    • Low-kV polishing (≤2 kV): Surface damage <5 nm

    • Dual-mode: 30 kV milling / 1 kV finishing

2. 3D Nanoscale Reconstruction

  • Auto Slice & View™ 4 Multimodal:esolution: 1 nm slice / 4 nm voxel

  • Unattended operation: ≥1000 layers continuous

3. Ultra-HRES Electron Optics

Technology Specification Industry Impact
NICol™ Dual Lens 60° tilt・Pole-piece protection Complex structure analysis
Schottky FEG Beam stability ±0.2%/hr・24mo life 24/7 operation
Beam Deceleration Landing 20 eV・1 keV res 1.2 nm Beam-sensitive materials

粤公网安备 44030702002241号